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弱吸收仪
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LID光热偏转技术弱吸收仪采用光热偏转技术,用于测量透明光学材料及镀膜产品受到激光照射后产生的微弱吸收。在强激光照射下,材料内部由于吸收热能产生折射率梯度现象(热透镜效应),当一束探测光经过“热透镜”效应区域时发生位置偏移,通过PSD位移传感器测量其位置偏移量。
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